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多模式光学成像仪

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摘要 美国专利US2004/0119020 (2004年6月24日公布) 本发明提供一种使用公用孔径的多模式光学成像仪,它能对一个视场中的两个或多个不同波段的电磁辐射进行成像。工作时。
作者 高
出处 《红外》 CAS 2004年第9期37-37,共1页 Infrared
关键词 多模式光学成像仪 电磁辐射成像 光路设计 冷屏蔽
分类号 TH74 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献
红外
2004年 第9期

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