2004年应用可靠性国际会议将举行
出处
《电子质量》
2004年第7期88-88,共1页
Electronics Quality
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3张雏,段晓峰,周冰,牛燕雄.光电设备应用中的可靠性问题研究[J].半导体光电,2002,23(4):282-284. 被引量：5
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4赵洪杰.电路设计中元器件应用可靠性探讨[J].光电对抗与无源干扰,2001(1):40-41. 被引量：1
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