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结构选择优化及过正量膜厚控制在激光析光膜中的应用

Application of Selective-Optimizing Design and Variable Overshoot in Laser Beam-Splitter
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摘要 分析了膜系设计中的膜层结构选择性优化方法,阐述了用光电极值法控制非4/l膜系的膜厚的方法——计算出沉积每一层具有极值的波长,然后根据此波长,给出一定的过正量进行膜厚模拟,最后确定每一层的监控波长。利用这种方法可以提高膜系厚度的控制精度。该文介绍了自主开发膜系设计软件的部分功能,并利用该软件设计并镀制出1060nm的激光析光膜。 This paper introduces the method of selective-optimizing design for some coatings, expatiates how to use the turning-point to control the thickness of non-4/l layers, also presents the way to improve the accuracy of optical monitoring, describing some functions of our software. Using the software, we have successfully designed and manufactured 1060nm laser beam-splitting coatings.
出处 《光学与光电技术》 2004年第5期17-19,共3页 Optics & Optoelectronic Technology
关键词 结构选择性优化设计 极值法 过止控制量 光学监控沉积仿真 selective-optimizing design turning point monitoring overshoot deposition simulation optical monitoring
  • 相关文献

参考文献3

  • 1[1]James D.Rancourt.Optical Thin Films User Handbook.SPIE.1996,63~71
  • 2张晓晖,陈清明,朱伟民,汤炜,杨光.一种提高极值法监控精度的方法[J].激光技术,2001,25(5):386-390. 被引量:8
  • 3[5]H Angus Macleod.Thin-Film Optical Filters Third Edition.Institute of Physics Publishing,2002,499~509

二级参考文献2

  • 1张晓晖,博士学位论文,2000年
  • 2周九林,光学薄膜技术,1974年,186页

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