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微电阻率扫描成像测井在裂缝性地层的应用

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摘要 地层微电阻率扫描测井是新一代成像测井技术的代表,具有极高的分辨率,能直观的反映井壁的电阻率变化,通过成像的方式反映地层特征。地层微电阻率扫描成像在构造识别方面发挥着重要作用,同时,在储层性质的评价和地应力分析方面也有着广泛的应用。
作者 于辉 丁松林
出处 《测井与射孔》 2004年第3期34-37,共4页
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