中茂电子:发现产品潜在的缺陷至关重要
出处
《今日电子》
2004年第7期70-70,共1页
Electronic Products
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1黄英华.提高电子产品可靠性的方法——HALT/HASS[J].信息技术与标准化,2004(11):47-49. 被引量:8
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2王琳.Halt的另类用法[J].开放系统世界,2006(3):75-75.
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3祝耀昌,王建刚.国外典型电子产品HALT和HASS结果简介[J].军用标准化,2003(3):55-59. 被引量:2
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4王世涛.HALT与HASS技术原理及其应用[J].四川兵工学报,2009,30(12):68-71. 被引量:2
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5祝耀昌,常志刚,等.高加速应力筛选(HASS)的应用[J].军用标准化,2002(3):35-38. 被引量:1
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6遇今,刘璟炜.多环境强化应力试验(MEOST)——高效的可靠性试验[J].质量与可靠性,2013(2):9-14. 被引量:2
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7孟红玉.HALT/HASS介绍及应用研讨会在深圳成功举办[J].环境技术,2009,27(1):1-1.
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8褚卫华,陈循,陶俊勇,张春华,蒋培.高加速寿命试验(HALT)与高加速应力筛选(HASS)[J].强度与环境,2002,29(4):23-37. 被引量:58
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9王雷,林诗美.HALT技术在工业系统的应用[J].新型工业化,2016,6(10):86-89. 被引量:4
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10林震,沈朝晖.美国QualMark加速可靠性试验中心HALT/HASS研究报告[J].电子技术参考,2002,2(2):51-58. 被引量:4
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