摘要
【目的】分析不同结构作参照系进行重叠法X线头影测量对测量结果产生的影响。【方法】20例Ⅱ类Ⅰ分类拔牙矫正患者治疗前后的X线头影侧位片,分别以①SN及S点,②Bolton平面和R点,③BaN及Pt点,④BaN及N点为参照系进行重叠分析颌面部结构的位置变化,观察不同参照系对同一患者测量结果的影响。【结果】4种参照系对同一患者测量得出结果各不相同(P<0.05),若以差别≥1mm定为有临床意义,大部分结果差别仍有临床意义。【结论】用重叠法作头影测量分析颌面部变化时,应考虑不同参照系对结果的影响。
出处
《中山大学学报(医学科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第B07期331-332,共2页
Journal of Sun Yat-Sen University:Medical Sciences