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NI和泰克：打造双赢共进的新局面——“2004设计、验证及测试论坛＂圆满落幕

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摘要美国国家仪器中国有限公司(National Instruments．简称NI)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)于2004年7～8月联合在深圳、上海、南京、成都、西安、北京六地相继举办了一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛”。

出处《电工技术杂志》 2004年第9期10-10,共1页 Electrotechnical Journal

关键词双赢北京美国国家仪器中国有限公司论坛国有深圳成都测试验证设计

分类号 TM26 [一般工业技术—材料科学与工程] TP393 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]

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电工技术杂志

2004年第9期

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