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集成电路简易检测装置

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摘要 本文介绍一种集成电路检测装置的设计方案。该装置的特点是结构简单,成本低廉,被测器件不局限于单一的类型。测试时所有芯片一次到位,最后给出出各芯片是否损坏的结果。
机构地区 华中理工大学
出处 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 1993年第7期84-88,共5页 Computer Engineering and Applications
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