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探讨用SEM-EDS分析材料的碳含量 被引量:8

Discussion of the application of SEM and EDS on carbon content analysis
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出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第6期532-532,共1页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Goldstein J I,等著. 扫描电子显微技术与X射线显微分析[M]. 见:张大同译. 北京:科学出版社,1988. 18-20.

同被引文献49

引证文献8

二级引证文献18

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