S-570扫描电镜电子枪高压绝缘密封系统受损后的恢复
Repair of the damaged high voltage, insulating and tightly closed part of S-570 SEM electron gun
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期651-651,共1页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
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