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采用底部填料预涂工艺的Au-Sn粘结倒芯片COF技术 被引量:1

Au-Sn Bonding Flip Chip COF Technology Using Pre-Applied Underfill Process
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摘要 概述了COF粘结技术以及应用底部填料预涂工艺的Au-Sn粘结倒芯片COF技术。 This paper summarizes bonding process for COF and Au-Sn bonding flip chip COF technology using pre-applied underfill process.
作者 蔡积庆
出处 《印制电路信息》 2004年第10期60-64,共5页 Printed Circuit Information
关键词 COF 芯片 技术 底部 COF bonding technology pre-applied underfill resin process flexible printed circuit (FPC) Au-Sn eutectic alloy
  • 相关文献

参考文献4

  • 1M.Chino. Pre-Applied Underfill Process for COF. 10th KGD Packaging and Test Workshop Proceedings. Die Products Consortium.p21,2003
  • 2赤羽隆行他.COFにおける先アンダ一フイル工法と30μmPPボンデインダ技衍の开发[A]..第17回エレクトロニクス实装学術演講大會講演論文集[C].エレクトロニクス实装会,2003.P167.
  • 3原秀和他 COF技术开发.アンダ一フイル材の先塗布によるAu-Sn接合フリツプチツプ[A].ボンダイングCOF技术开发.第13回マイクロエレクトロニクスシンポヅウ厶论文集[C].エレクトロニクス实装学会,2003.P204.
  • 4千野满.先アンダ一フィル工法を用いたAu—Sn接合フリツプCOF技术[J].エレクトロニクス实装技术,2004,04(1).

同被引文献7

引证文献1

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