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为测试受限制的板制定DFT程序
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摘要
本文介绍．对于许多板来说，由于不适当的可测试性设计(DFT．design for testability)而失去对关键节点的探测可能完全地毁坏缺陷覆盖率。
作者
srigOtesjo BarryOdbert
出处
《电子电路与贴装》
2004年第5期31-33,共3页
Electronics Circuit & SMT
关键词
DFT
可测试性设计
覆盖率
探测
节点
限制
缺陷
程序
制定
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子电路与贴装
2004年 第5期
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