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微机在晶体管快速筛选中的应用

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摘要 本文介绍用微机控制晶体管电学参数的测试条件的接通和关断、采用对晶体管的瞬时超功率冲击来检测晶体管的电学参数的方法取代传统的满功率老化法筛选晶体管工艺,从而达到省时、省电、省人力和筛选的严格性科学性。
作者 徐军 徐锡洋
出处 《微型机与应用》 1992年第12期21-23,共3页 Microcomputer & Its Applications
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