Blu-Ray DVD芯片的测试挑战

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摘要本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构，以及量产时缩短测试时间，减少测试成本的方法。

作者 DonBlair KeitaGunji 马朝

机构地区不详安捷伦科技有限公司

出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期i001-i002,共2页 Semiconductor Technology

关键词 DVD芯片挑战量产需求混合信号测试缩短蓝光DVD 测试成本单芯片 SOC架构

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半导体技术

2005年第1期

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