科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
出处
《今日电子》
2004年第12期87-87,共1页
Electronic Products
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1科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统[J].电子测试（新电子）,2005(1):97-97.
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2新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题[J].电子与电脑,2004(12):31-31.
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3Jack Froest.用全面的测试策略来加速你产品的量产时间[J].半导体技术,2003,28(3):47-47.
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4飞利浦推出65纳米低功耗CMOS SoC[J].电子测试（新电子）,2006(4):80-80.
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5飞利浦采用65nm低功耗CMOS工艺实现一次成功的消费产品SoC[J].电子设计应用,2006(5):78-78.
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6曹山,刘继勇.基于FPGA的Alpha半透明图像叠加算法硬件实现[J].电子设计工程,2015,23(10):172-174. 被引量：3
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7Xilinx推出赛灵思EasyPath-6 FPGA[J].单片机与嵌入式系统应用,2010(1):86-86.
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8产业[J].计算机光盘软件与应用,2014,17(5):2-2.
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9GlobalScan-I激光扫描显微镜系统用于设计边缘和失效定位[J].半导体技术,2005,30(5):56-57.
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10大陆集团新一代前窗显示器将量产[J].汽车与配件,2010(6):12-12.
