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OnWafer面向工艺控制推出“无线掩膜”
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摘要
为基于晶圆的半导体制造工艺控制提供传感器的OnWafer科技公司日前宣布进入光掩膜市场,已向掩膜公司、掩膜设备OEM和扫描仪设备OEM推出所谓的Mask Temp Sensor Plare无线传感器。
出处
《集成电路应用》
2004年第11期63-63,共1页
Application of IC
关键词
掩膜
无线传感器
半导体制造工艺
晶圆
工艺控制
科技公司
扫描仪
OEM
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
TP212 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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集成电路应用
2004年 第11期
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