中国电子学会可靠性分会召开第十二届学术年会
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2004年第6期17-17,共1页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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1中国电子学会电子对抗分会第十六届学术年会征文通知[J].电子对抗,2008(3):48-49.
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2中国电子学会第14届电子元件学术年会征文通知[J].电子元件与材料,2005,24(6):26-26.
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3中国电子学会2006年国际会议[J].电子学报,2005,33(B12).
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4《信号处理》征稿简则[J].信号处理,2014,30(1).
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5中国电子学会电子对抗分会第十六届学术年会征文通知[J].舰船电子对抗,2008,31(3):120-120.
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6《信号处理》征稿简则[J].信号处理,2012,28(12).
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7中国电子学会电子对抗分会第十四届学术年会征文通知[J].电子对抗,2005(2):19-20.
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8中国电子学会可靠性分会通知[J].电子产品可靠性与环境试验,2005,23(1):15-15.
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9中国电子学会第15届电子元件学术年会征文通知[J].电子元件与材料,2008,27(5):11-11.
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10《信号处理》征稿简则[J].信号处理,2013,29(1).
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