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爱德万测试2004年技术研讨会成功召开
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摘要
爱德万测试(苏州)有限公司日前在上海、北京两地召开了2004年技术研讨会。爱德万测试软件部门的工程师们以“Soc测试的领先技术”等为题作了精彩的发言。整个会议围绕着IC测试的新潮流和新手法,带给工程师们最新的资讯,并有与现场听众进行的互动交流,反响良好。
出处
《中国集成电路》
2005年第1期39-39,共1页
China lntegrated Circuit
关键词
北京
召开
部门
技术研讨会
成功
工程师
苏州
SOC测试
IC测试
互动交流
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
F12-27 [经济管理—世界经济]
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中国集成电路
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