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爱德万测试2004年技术研讨会成功召开

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摘要 爱德万测试(苏州)有限公司日前在上海、北京两地召开了2004年技术研讨会。爱德万测试软件部门的工程师们以“Soc测试的领先技术”等为题作了精彩的发言。整个会议围绕着IC测试的新潮流和新手法,带给工程师们最新的资讯,并有与现场听众进行的互动交流,反响良好。
出处 《中国集成电路》 2005年第1期39-39,共1页 China lntegrated Circuit

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