摘要
针对卤化银感光材料潜影形成过程中光作用动力学问题,分析了曝光强度对光生载流子行为和电子陷阱效应的影响,认为伴随着曝光强度的增加,影响光电子衰减的因素由电子陷阱起主要作用演化到电子陷阱和复合中心共同起作用进而演化到复合中心起主要作用.
For the question of the photo-action kinetics in the formation process of latent image in silver halide material, the influences of exposure intensity on the behavior of photo-generation carriers and electron trap effect are analyzed. It is obtained that the main factor influencing the decay of photoelectrons evolves from electron traps to the combination of electron traps and recombination centers, and then to recombination centers.
出处
《感光科学与光化学》
EI
CSCD
2005年第1期21-28,共8页
Photographic Science and Photochemistry
基金
国家自然科学基金项目(10274017
10354001)
河北省自然科学基金项目(103097)
教育部重点项目(01011)资助课题.
关键词
电子陷阱
复合中心
曝光强度
光电子
光空穴
卤化银
electron trap
recombination center
exposure intensity
photoelectron
photohole
silver halide Corresponding author: LIU Rong-juan