期刊文献+

Adantest研讨会在京沪召开,力推芯片测试解决方案

下载PDF
导出
摘要 爱德万测试(Advantest)公司日前相继在上海和北京召开了技术研讨会,向与会介绍推介了该公司面向中国市场主流芯片的测试解决方案。
出处 《电子质量》 2004年第12期78-79,共2页 Electronics Quality
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部