Blu-Ray DVD芯片的测试挑战
摘要
本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC 架构,以及量产时缩短测试时间,减少测试成本的方法。
出处
《半导体技术》
CSCD
北大核心
2005年第2期i001-i004,共4页
Semiconductor Technology
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