期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
下载PDF
职称材料
导出
摘要
科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
出处
《电子测试(新电子)》
2005年第1期97-97,共1页
Micro-Electronics
关键词
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题[J]
.电子与电脑,2004(12):31-31.
2
科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题[J]
.今日电子,2004(12):87-87.
3
Jack Froest.
用全面的测试策略来加速你产品的量产时间[J]
.半导体技术,2003,28(3):47-47.
4
Xilinx推出赛灵思EasyPath-6 FPGA[J]
.单片机与嵌入式系统应用,2010(1):86-86.
5
GlobalScan-I激光扫描显微镜系统用于设计边缘和失效定位[J]
.半导体技术,2005,30(5):56-57.
6
产业[J]
.计算机光盘软件与应用,2014,17(5):2-2.
7
大陆集团新一代前窗显示器将量产[J]
.汽车与配件,2010(6):12-12.
8
唐志群,林学.
基于自适应OBA表的单脉冲二次雷达角度测量方法[J]
.电子工程,2009(4):33-35.
9
北斗星通正在研发北斗第三代芯片[J]
.中国科技纵横,2014(5):2-2.
10
阿尔卡特朗讯为加拿大部署高速3G移动网络[J]
.电信科学,2009,25(9):111-111.
电子测试(新电子)
2005年 第1期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部