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微处理器的自测试和容错设计

Microprocessor Self-testing and Design of Fault-tolerance
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摘要 在本文中提出了一种新的自测试方法,适用于(1)对所有可能的故障进行诊断和报警,(2)确定最佳复试策略,(3)使系统从故障状态中恢复正常工作,经过微处理器实用试验,证明是行之有效的方法。 In this paper a new self-testing method is presented for determining and alarming the fault which is possibly detected, determining an optimal retry policy and retrying to recover the system from the fault. It is proved a effective method after practising of the microprocessor.
作者 刘维奇
出处 《四川建材学院学报》 1993年第1期19-23,共5页
关键词 测试 容错 硬件 故障 微处理器 self-testing, fault-tolerance, hardware detector, fault, retry
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参考文献1

  • 1吴定荣,张秀琼编.CMOS高级微处理器HD/Z用户手册[M]北京工业大学出版社,1988.

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