摘要
分析了国外目前常用几种薄膜晶体管（TFT）有源矩阵液晶显示（AM－LCD）屏的缺陷检测方法的优缺点。深入研究了TFT－LCD屏的结构、缺陷产生的原因和概率，设计了一种能全面、直观地进行TFT－LCD缺陷检测的方法，该方法不仅能检测出TFT－LCD中各种常见的断短路等硬性缺陷并确定其具体位置，而且能根据TFT－LCD屏质量要求对软性缺陷进行判定。
The advantages and disadvantages of present defect testing method for TFT-LCD panels is analysed. A new method which can easily test all kinds of defects in TFT-LCD panels is designed.
出处
《光电子技术》
CAS
1997年第2期102-109,共8页
Optoelectronic Technology
