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IC的设计

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摘要 论述了IC设计制作中测试的基本原理和实现方法、提高设计电路的可测性以及利用逻辑变换来提高单元利用率,从而得到最好的测试程序和更大的集成度,使设计的芯片在费用和开发周期方面更为合理,质量更为可靠。
作者 王祖彤
机构地区 电子部三十所
出处 《通信技术》 1993年第3期38-48,共11页 Communications Technology
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