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射线照相缺陷测高——理论与实践的最新进展 第一部分 缺陷对散射线和对比度的影响
被引量:
1
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摘要
提出根据一次曝光在单张射线底片上的缺陷影像对比度来测定缺陷自身高度的方法。
作者
李衍
机构地区
无锡锅炉厂
出处
《无损探伤》
2000年第2期1-7,共7页
Nondestructive Testing Technology
关键词
缺陷测高
射线照相
散射比
对比度
无损检测
分类号
TG115.281 [金属学及工艺—物理冶金]
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