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基于IEEE1149.X标准的测试技术研究 被引量：1

Research of the Test Techniques Based on IEEE 1149.X
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摘要 IEEE1149标准及其子标准是基于边界扫描的测试技术,它们针对不同的应用环境采用相应的技术标准。它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试。本文讨论了IEEE1149.X中各标准的原理、结构,分析了各项技术的发展及应用,并举例说明了在实际中的测试应用。 IEEE1149 standard and its .X sub standards are based on boundary scan technique, different standards can be appropriately selected for various of applications. The standards provide more solutions to the test of IC level, board level, system level and digital networks, which facilitate the debugging and testing of them. In the paper the theory and architecture of IEEE1149.X standards will be discussed, then their development and applications will be analysed, and their applications in practice will be pointed out.
作者 姜鹏 沈绪榜
机构地区 西北工业大学计算机学院
出处 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2004年第12期163-165,共3页 Microelectronics & Computer
基金 国防预研基金资助(41308010203)
关键词 IEEE1149.X 边界扫描 测试技术 IEEE1149.X, Boundary scan, Test techniques
分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献6

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  • 3IEEE Standard 1149.5-1995. IEEE Standard Module Test and Maintenance(MTM) Bus Protocol. 1995.
  • 4IEEE Standard 1149.6-2003. IEEE Standard for Boundary Scan Testing of Advanced Digital Networks. 2003.
  • 5沈绪榜.RISC及后编译技术.北京:清华大学出版社,1994:67-82.
  • 6陈小铁,沈绪榜,赵冰茹,王忠,陈朝阳.LS-JTAG边界扫描测试系统的设计与实现[J].微电子学与计算机,2001,18(2):38-41. 被引量：2

二级参考文献5

  • 1梁松海.VLSI可测试性设计研究（博士论文）[M].西安微电子技术研究所,1997..
  • 2沈绪榜，MPP嵌入式计算机设计，1999年
  • 3梁松海，博士论文，1997年
  • 4沈绪榜，RISC及后编译技术，1994年
  • 5李朝青，单片机原理及接口技术，1994年

共引文献1

同被引文献16

  • 1陈新武,余本海.边界扫描测试协议剖析——从1149.1到1149.6[J].计算机与数字工程,2005,33(1):25-29. 被引量：9
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引证文献1

二级引证文献1

微电子学与计算机
2004年 第12期

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