尚田科技与美国PMS共同举办“微污染监测”研讨会

2003年10月24日，在上海南华亭宾馆的百合厅，举办了一场微污染监测研讨会。与会者就解决因微粒子污染而造成的产品合格率损失的问题，针对微粒特性以及微粒计数器的介绍，研究并讨论了如何降低成本，提高产品合格率。