摘要
钼蓝光度法是测定硅的经典方法,其精密度好,灵敏度高,至今仍广泛应用于各种基体中痕量硅的测定.国家标准局1988年发布的荧光级Y_2O_3中Si的测定方法就是钼蓝光度法.国家一级标准物质需要两种不同原理的可靠方法进行分析定值.而ICP-AES法具有检出能力好,基体效应小,精密度高,动态范围宽,自吸收效应和背景小等特点.比钼蓝光度法更简便、快速、灵敏、准确.用ICP-AES法测定高纯稀土氧化物中Si尚未见文献报道.
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
1993年第5期56-57,共2页
Metallurgical Analysis
