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扫描探针显微术及其在纳米科技中的应用 被引量：1

Application of Scanning Probe Microscopy in Nano Technology
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摘要 综述了近二十年来以扫描隧道显微镜为代表的、基于探针的成像显微装置基本原理及应用领域。 Reviewed are the basic principles and application fields of probe-based imaging microscope, represented by scanning tunneling microscopes for the recent 20 years.
作者 王锐 李道火 黄永攀 罗丽明 浦坦
机构地区 中国科学院安徽光学精密机械研究所
出处 《激光与光电子学进展》 CSCD 2003年第9期49-52,共4页 Laser & Optoelectronics Progress
关键词 扫描隧道显微镜 探针 纳米技术 工作原理 nano science and technology scanning tunneling microscope scanning probe microscope scanning near-field optical microscope
分类号 TH742 [机械工程—光学工程] TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
  • 相关文献

参考文献11

二级参考文献94

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共引文献51

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引证文献1

二级引证文献3

激光与光电子学进展
2003年 第9期

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