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碳纳米管制成的晶体管拥有高出25%的迁移率
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摘要
美国马里兰大学的科学家制成了碳纳米管晶体管,其迁移率是硅晶体管的70倍。碳纳米管晶体管可以检出存贮器中的单个电子。碳纳米管的迁移率达100000cm^2/v.s,而锑化铟的迁移率是77000cm^2/v.s,硅的迁移率是1500cm^2/v.s。
作者
杨英惠
出处
《现代材料动态》
2005年第2期8-8,共1页
Information of Advanced Materials
关键词
迁移率
硅晶体管
碳纳米管晶体管
锑化铟
电子
管制
美国
存贮器
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
TN386 [电子电信—物理电子学]
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