基于JTAG的板级可测试性设计
被引量：5
Board-Level Design for Testability Based on JTAG
摘要
阐述了JTAG技术的采用给电路板的可测试性带来的改善,从设计方法、优化策略以及实现技术等几个方面,讨论了利用边界扫描技术进行电路板的可测试性设计.
出处
《海军航空工程学院学报》
2005年第1期173-176,共4页
Journal of Naval Aeronautical and Astronautical University
参考文献3
-
1[2]Lee Whetsel. JTAG-Compatible Devices Simplify Board-level design for testability[A]. WESTCON conference[C]. Rye Brook, NY: International Conference On Computer Design. 1989
-
2[3]Pete Fleming, Don MclCean. Scan-based Design Verification-An Alternative Approach[A]∥ ATE and Instruments Conference West[C]. Washington DC, USA:Proceedings of the International Test Conference. 1990
-
3[4]Texas Instruments. SN54ABT18245A, SN74ABT18245A -Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers[M].1999
同被引文献20
-
1蒋新胜,王永风,马光彦,李华兵.基于USB接口的便携式故障诊断系统[J].仪器仪表学报,2002,23(z1):240-241. 被引量：3
-
2王晗中,杨江平,张爱元.现代雷达装备综合智能故障诊断系统设计[J].现代雷达,2008,30(11):18-21. 被引量：18
-
3刘家欣,肖大雏,王彬如.边界扫描在PCB缺陷测试中的应用[J].计算机测量与控制,2004,12(5):401-403. 被引量：2
-
4申宇皓,马春雷.系统级可测试性设计[J].华北工学院学报,2004,25(5):348-352. 被引量：5
-
5吴皓,刘鹏.基于JTAG的DSP处理器嵌入式调试接口设计[J].计算机工程,2005,31(1):228-230. 被引量：5
-
6董志凌.多芯片组件测试方法[J].电子工业专用设备,1994,23(4):50-57. 被引量：3
-
7张甜,王祖强,蔡棽.边界扫描测试的软件实现[J].计算机工程,2007,33(7):220-221. 被引量：4
-
8崔向东.JTAG边界扫描机制及应用[J].计算机工程与科学,1996,(1).
-
9[2]IEEE Std 1149.1-1990,IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture[S].
-
10[1]TI Corp.IEEE Std 1149.1(JTAG) Testability Primer[S].1997
引证文献5
-
1史贤俊,周绍磊,张文广,周杰.边界扫描技术在板级可测性设计中的应用[J].海军航空工程学院学报,2006,21(2):249-252. 被引量：3
-
2王新政,蔡绪涛,陈达,王浩宇.边界扫描结构和IEEE1149.1标准[J].海军航空工程学院学报,2006,21(5):535-538.
-
3周杰,周绍磊,彭贤,雷鸣.边界扫描技术在板级可测性设计中的应用[J].中国测试技术,2007,33(4):77-80. 被引量：1
-
4王建虹.雷达数字电路板故障测试技术研究[J].国外电子测量技术,2010,29(1):53-55. 被引量：5
-
5王欣,李银辉.基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术[J].核电子学与探测技术,2012,32(8):968-970.
二级引证文献9
-
1吴进华,沈剑,段育红,陈海建.数模混合电路故障诊断的方法研究[J].海军航空工程学院学报,2008,23(3):297-301. 被引量：7
-
2季力,颜建军.CPU小系统故障定位方法[J].轻工机械,2009,27(3):64-66.
-
3周吉康,王凤驰.基于边界扫描技术的集成电路测试平台设计[J].硅谷,2011,4(9):60-61.
-
4张巧炫,龙兵,杨兴霁.基于多信号模型的可测性指标体系研究[J].电子测量技术,2011,34(10):19-22. 被引量：12
-
5乔平安,高丽.一种雷达模拟电路测试仪的设计[J].西安邮电大学学报,2013,18(5):66-69.
-
6李渊,焦萍萍.雷达数字电路板故障诊断系统研究[J].黑龙江科技信息,2014(19):107-107.
-
7王凤驰.基于边界扫描技术的PCB测试平台设计[J].中小企业管理与科技,2015(18):214-214.
-
8肖圣兵.某型雷达通用自动测试系统的设计[J].电子测量技术,2016,39(4):96-100. 被引量：21
-
9王明辉.雷达数字监控插件的实现与测试[J].装备机械,2018(1):55-58.
-
1王征.关于JTAG链使用的设想[J].中小企业管理与科技,2012(18):226-226.
-
2冰.JTAG测试技术[J].电子产品世界,2004,11(11A):67-70.
-
3王欣,李银辉.基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术[J].核电子学与探测技术,2012,32(8):968-970.
-
4刘军.JTAG技术在PCB测试中的应用[J].科技信息,2010(21). 被引量：2
-
5马学文,朱名日.基于S3C4510B的嵌入式系统调试技术[J].单片机与嵌入式系统应用,2004,4(5):67-68.
-
6史贤俊,周绍磊,张文广,周杰.边界扫描技术在板级可测性设计中的应用[J].海军航空工程学院学报,2006,21(2):249-252. 被引量：3
-
7郑先刚,张学斌.基于JTAG技术的FLASH加载——一种新的在板编程技术[J].电子元器件应用,2004,6(10):38-40.
-
8肖劲华.浅谈芯片数据提取在手机取证中的应用[J].黑龙江科技信息,2016(14):150-151.
-
9董承,何朝军,吕彩霞.JTAG指令处理器IP软核设计[J].中国电子商情（通信市场）,2011(5):55-60.
-
10胡学良,张春,王志华.JTAG技术的发展和应用综述[J].微电子学,2005,35(6):624-630. 被引量：16
