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在万工显上提高测量内孔圆度误差精度探讨

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摘要在万工显上测量内孔圆度误差时，由于存在对线误差、分庭装置轴线的径向误差和读数误差的影响，因而测量精度不高．本文试图在提高分度台迥转精度和测微仪精度方面作一探讨，以求提高测量精度．

作者杨天华刘学明

出处《计量与测试技术》 1994年第2期4-5,共2页 Metrology & Measurement Technique

关键词万能工具显微镜内孔圆度误差测量精度

分类号 TH741.8 [机械工程—光学工程]

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计量与测试技术

1994年第2期

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