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应用广泛的粒度测量系统:马尔文Mastersizer2000粒度测量系统
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摘要
粒径,是研究粉体材料时最重要的参数之一。因此,在研究工作中,对颗粒粒径的测量必不可少。本文介绍了马尔文仪器公司(Malvern Instruments)基于激光衍射技术的全自动粒度分析仪Mastersizer2000。
出处
《流程工业》
2003年第7期80-80,共1页
关键词
R2000
系统
参数
仪器
全自动
粒度测量
粒度分析仪
颗粒粒径
粉体材料
研究
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
TP368.32 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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