摘要
本文就我科智测室通过智能测定后确诊为智能低下(MR)儿105例之病因进行了分析。按国内四种分类,本组中先天和/或遗传因素占48.6%(51/105),围产因素占14.3%(15/105),后天因素占21.9(23/105),原因不明占15.2%(16/105)。在先天和/或遗传因素中以脑发育不全占首位(18/51),原发性癫痫次之(12/51)。而围产因素中则主要是苍白窒息(6/15)和颅内出血(4/15),后天因素以脑外伤(6/23)和中枢神经系统感染为(13/23)。为降低MR发病率。笔者提出不同原因致病的防治措施。
出处
《中国优生与遗传杂志》
1994年第2期84-85,80,F004,共4页
Chinese Journal of Birth Health & Heredity