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39例小儿重度智力低下临床分析

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摘要 本文对39例智商IQ35分以下的重度智力低下小儿的病因、合并症、脑电图及颅CT进行分析。结果提示:重度智力低下多数有因可查,围产期因素33/39例,占有重要位置,加强围产期保健是降低发病率的关键;感染性因素1/39例,属少见病因。重度智力低下常伴二种以上功能缺陷,以脑瘫26/39例,癫痫20/39例最常见;脑电图、颅CT对其均有较高异常检出率,分别为22/39例和28/39例,部分脑电图正常而颅CT仍有异常发现,颅CT为重度智力低下病因分析提供了一种新的有效检查手段。
出处 《中国优生与遗传杂志》 1995年第1期94-95,共2页 Chinese Journal of Birth Health & Heredity
  • 相关文献

参考文献2

  • 1王永午,苏渊,刘光华.小儿头颅CT检查1,776例报告[J]临床儿科杂志,1990(04).
  • 2张新生,柳旭.200例脑性瘫痪的CT改变及其临床意义[J]临床儿科杂志,1990(04).

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