摘要
本文对39例智商IQ35分以下的重度智力低下小儿的病因、合并症、脑电图及颅CT进行分析。结果提示:重度智力低下多数有因可查,围产期因素33/39例,占有重要位置,加强围产期保健是降低发病率的关键;感染性因素1/39例,属少见病因。重度智力低下常伴二种以上功能缺陷,以脑瘫26/39例,癫痫20/39例最常见;脑电图、颅CT对其均有较高异常检出率,分别为22/39例和28/39例,部分脑电图正常而颅CT仍有异常发现,颅CT为重度智力低下病因分析提供了一种新的有效检查手段。
出处
《中国优生与遗传杂志》
1995年第1期94-95,共2页
Chinese Journal of Birth Health & Heredity