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离子注入对Cu_xS薄膜的影响

Effect of Ions Beam Implantationon Cu_xS Thin Films
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摘要 讨论了CuxS薄膜经氮离子注入后对薄膜的特性影响 ,铜硫化合物薄膜是经两次蒸发制备在玻璃上。实验发现氮离子束注入引起了CuxS薄膜中的铜与硫成分的改变 ,明显观察到样品中的铜对硫的比值随注入离子束强度的增加而变大。经过透射光谱的分析对比证实了确有新的CuxS状态出现。 TheimplantationtechniquehasbeenintroducedtoCuxSthinfilmspreparedbytwiceevaporationdeposition .NitrogenionsbeamcauseavariationofcopperandsulfurcompositionintheCuxSfilms .Itisshowedthattheradioofcoppertosulfurinthesampleisenhanced withintensionofenteringtheCuxSfilms .Thecomparisonofopticaltransmissionbetweenoriginalandimplantedsampledemonstratesa newphasetoemergy .
出处 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期556-557,共2页 Journal of Functional Materials
关键词 CuxS薄膜 离子注入 相变 透射率 CuxSthinfilms ionimplantation phasetransposition transmissivity
  • 相关文献

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