非晶合金表面的过渡族元素富集层

本文用X光光电子能谱(XPS),研究了过渡族元素一类金属元素(TM—M)型急冷非晶合金FeXSiB。其中,X为2％或3％原子百分数的Zr、Mn、Mo。测定了2000(?)表面层中元素分布的情况。研究表明,单辊急冷法制得的TM-M型非晶合金,其表面可能出现TM元素的富集层。富集层的形成,显然与替代元素X有关,与急冷过程有关,也与样品的退火工艺有关。在经过真空退火,或者氧化处理的样品中,可得到1000(?)以上厚度的富集层。对于Zr元素替代Fe的样品,TM元素原子的富集,可高达95％以上。这种TM元素的表面富集,将影响样品的表面晶化过程。