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军用运算放大器112例综合分析
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摘要
综合分析了五年来半导体器件112例军用运算放大器的失效模式及机理。指出了质量管理的重要性,反映了军用电路从生产、交检到使用所存在的问题并提出保证可靠性的四点建议。
作者
田耀亭
机构地区
半导体器件失效分析中心
出处
《航天工艺》
1993年第4期55-56,F003,共3页
关键词
失效分析
可靠性
运算放大器
分类号
TN722.77 [电子电信—电路与系统]
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