期刊文献+

亚微米光刻与刻蚀工艺研究 被引量:2

下载PDF
导出
摘要 采用三层胶光刻工艺及以SF_6+Ar为反应气体的反应离子刻蚀工艺,实现了小于0.50μm的图形转移,并将此微细加工工艺应用于0.50μmCMOS集成电路的制做。
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1994年第1期22-25,共4页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

同被引文献6

引证文献2

二级引证文献4

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部