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声学显微镜及在电子器件工业中的应用 被引量:3

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摘要 阐述了声学显微镜(SAM)的结构、工作原理,以及声学显微镜在电子元器件检测中广泛的实际应用研究;指出SAM是一种具有观察、检测、分析的多功能仪器,将成为超声检测仪器升级换代产品。
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1994年第1期50-57,共8页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献4

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  • 2吴振一,陈戈林,张克潜.球面换能器汇聚系统V(z)曲线的射线理论[J]声学学报,1988(06).
  • 3陈戈林,李德杰,张凤禧,罗淑云,应嘉年,周宏朴,胡思正,金芬年,周启博,王华俭,张克潜.300~700兆赫透射式扫描声学显微镜的研究和试制[J]应用科学学报,1984(04).
  • 4张克潜,陈戈林.声显微镜的现状和发展[J]电子学报,1984(04).

二级参考文献4

  • 1吴振一,陈戈林,张克潜.球面换能器汇聚系统V(z)曲线的射线理论[J]声学学报,1988(06).
  • 2陈戈林,胡思正,罗淑云,张克潜.500 MHz反射式机械扫描声学显微镜的研究和试制[J]声学学报,1988(02).
  • 3陈戈林,李德杰,张凤禧,罗淑云,应嘉年,周宏朴,胡思正,金芬年,周启博,王华俭,张克潜.300~700兆赫透射式扫描声学显微镜的研究和试制[J]应用科学学报,1984(04).
  • 4H. L. Bertoni,T. Tamir. Unified theory of Rayleigh-angle phenomena for acoustic beams at liquid-solid interfaces[J] 1973,Applied Physics(4):157~172

共引文献7

同被引文献39

引证文献3

二级引证文献3

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