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国外军用半导体器件的筛选、检测实例
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摘要
介绍国外军用半导体器件按照双方所订合同进行筛选试验,采用固定样本的抽样方案,B组和C组的检验项目合并,严格按照ML-STD-750方法进行试验。
作者
徐立生
刘世华
乔金玉
机构地区
电子工业部第十三研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第6期42-44,共3页
Semiconductor Technology
关键词
军用
半导体器件
筛选
抽样
分组
检验
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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半导体技术
1994年 第6期
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