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可测性设计技术的进展
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摘要
叙述了可测性设计技术的发展及已取得的可行的可测性设计方法,并指出了今后的研究方向。
作者
叶波
郑增钰
机构地区
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第6期1-4,共4页
Semiconductor Technology
关键词
可测性
设计
集成电路
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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半导体技术
1994年 第6期
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