摘要
多芯片封装(MCP)正在成为器件封装的重要方式,这不只是为了满足高运行速度的要求,而且还为了提高系统的集成度。尤其当封装体积和重量成为关键性推动因素时,就更是如此。随着MCP尺寸增大以适应系统集成度日益提高的要求,气密性封接变得非常昂贵,且从技术上来说,即使不是毫无可能,也是难以达到的。这就促使我们对各种用于非气密MCP的密封剂进行评估。我们相信,密封剂是未来MCP技术的关键性因素。这些技术包括单片和混合圆片规模的集成,以及可提供更高水平封装集成的三维MCP集成。在这些先进的MCP应用中,密封剂可提供“非气密可靠性”,此外,在与气密封装具有同等可靠性的情况下,它可降低成本,减轻重量,缩小体积。本文中,我们发表了一项密封剂的研究成果,即鉴定适合于MCP应用的增强型硅酮材料,同时,我们将确定MCP应用所需密封剂的性能和特点。然后,我们根据文献综述为筛选实验选择了六种类型的密封剂。今这些密封剂在85℃和85%的相对湿度下,加直流偏压和现场漏电流监控进行测试,一种改性硅酮密封剂(MSE,U.S.Patent4888266)被确认为最有希望的材料,并接受更进一步的研究。将用MSE密封的实验样品与五种经选择的化学试剂接?
出处
《半导体情报》
1994年第1期36-44,共9页
Semiconductor Information