Si／Si_（1－x）Ge_x应变层超晶格折叠声子能隙的精细测量

High Resolution Measurement of Phonon Energy Gaps in St/Si_(1-x)Ge_x Strained Layer Superlattices.

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摘要采用高分辨喇曼光谱仪测量了Ｓｉ／Ｓｉ_（１－ｘ）Ｇｅ_ｘ应变层超晶格中折叠纵向声学支（ＦＬＡ）声子的非弹性散射谱．通过改变激光波长得到了拆叠布里渊区边界附近ＦＬＡ声子的色散曲线，并第一次获得了四级ＦＬＡ声子带隙．将ＲＲｙｔｏｖ理论和精确测量结果进行了比较，讨论了Ｒｙｔｏｖ理论的应用范围及限制，发现在拆叠布里渊区边界上Ｋｙｔｏｖ理论与实验有明显分歧．高分辨喇曼谱还揭示出ＦＬＡ声子峰的精细结构和系列卫星线，讨论了产生这些精细结构的机制以及用于材料标识的可能性．

作者张鹏翔 Lock.,DJ

机构地区中国科学院物理研究所

出处《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第6期373-382,共10页 半导体学报（英文版）

关键词应变层超晶格声子 SI/SI1-XGEX

分类号 TN307 [电子电信—物理电子学]

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