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利用逐层生长技术制备硅薄膜的研究 被引量:1

Layer by Layer Deposition of Silicon Films Using PECVD Method
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摘要 本文介绍了在PECVD系统中利用逐层生长技术(LayerbyLaver)沉积硅薄膜,薄膜在衬底温度只有250℃的情况下已晶化.本文对于氢在薄膜沉积过程中的剪裁作用进行了分析,并对薄膜的结构和光电性质作了详细的研究. Abstract We have achieved crystallized silicon films using layer by layer deposition technique. The effect of hydrogen tailoring has been studied. The structures and optoelectrical properties of the films have been inverstigated in more detail.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第9期638-642,共5页 半导体学报(英文版)
  • 相关文献

参考文献5

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  • 3Tsai C C,1991年
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  • 5Tsai C C,J Non-Cryst Solids,1989年,114卷,151页

同被引文献21

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引证文献1

二级引证文献2

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