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C-V测量中的实验曲线拟合
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摘要
介绍一种将实验曲线拟合成经验公式的方法用此方法,计算出势垒电容与反向偏压之间关系的经验公式,结果表明公式能很好地反映实验测量数据。
作者
胡永哲
郭恩祥
机构地区
天津市和平中学
出处
《半导体杂志》
1994年第1期7-9,共3页
关键词
曲线拟合
C-V特性
测量
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
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半导体杂志
1994年 第1期
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