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半导体超晶格物理与器件（13）

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摘要半导体超晶格物理与器件（１３）彭英才（河北大学电子与信息工程系０７１００２）三、半导体表面与异质结界面的ＳＴＭ观测扫描隧道显微镜（ＳｃａｎｎｉｎｇＴｕｎｎｅｌｉｎｇＭＩｃｒｏｓｔｏｐｙ－ＳＴＭ）是８０年代的初期发展起来的一种新型表面分析技术［２３］。...

作者彭英才

机构地区河北大学电子与信息工程系

出处《半导体杂志》 1994年第3期47-53,共7页

关键词半导体器件超晶格物理异质结

分类号 TN303 [电子电信—物理电子学]

引文网络
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1彭英才.半导体超晶格物理与器件（17）[J].半导体杂志,1995,20(3):50-55.
2彭英才.半导体超晶格物理与器件 3[J].半导体杂志,1992,17(1):46-51.
3彭英才.半导体超晶物理与器件（18）[J].半导体杂志,1995,20(4):49-54.
4彭英才.半导体超晶格物理与器件（终篇）[J].半导体杂志,1996,21(3):50-55. 被引量：1
5彭英才.半导体超晶格物理与器件(20)[J].半导体杂志,1996,21(2):51-55.
6夏建白,李树深,常凯,朱邦芬.半导体纳米结构物理性质的理论研究——2004年国家自然科学二等奖获奖项目介绍[J].物理,2005,34(11):801-803.

半导体杂志

1994年第3期

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