摘要
本文改进了Edlen提出的由光谱数据推求Rydberg系列电离阈的方法,并且指出在δ(量子数亏损)-T(谱项值)图上可显示出正确的电离阈值。
This work improves Edlen’s method which detennines the atomic ionization limitfrom the analysis of the observed spectral data and then suggests that the correct ionizationlimit value can be shown in theδ(quantum defect)-T(spectral term value)diagram
出处
《大学物理》
北大核心
1994年第3期7-8,12,共3页
College Physics
关键词
原子能级
电离
阈值
量子数亏损
Atomic ionization limit,Rydberg series,quantum defect.