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DY-5型亚微米电子束曝光机多座标系重合的调校技术

TECHNIOUE OF ADJUSTMENT AND CORRECTION OF POLY-COORDINATE SYSTEMS COINCIDENCEIN DY-5 MICRO-EBEM
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摘要 在电子束曝光机中,工件传动台、电磁偏转场及标记三者相对应的座标轴是否重合,是影响图形拼接精度的重要因素之一。本文概要地介绍了调校三座标系相互重合的方法,并给出了DY-5型亚微米电子束曝光机调校结果。 In electron beam exposure machines the coincidence of three correspon-ding coordinate systems of stage movement, electro-magnetic deflection andmark is one of the important factors which affect pattern stitching accu-racy. The paper introduced adjustment and correction methods of coincidingthe poly-coordinate systems, and gave adjustment and correction results ofDY-5 micro-EBEM.
出处 《电工电能新技术》 CSCD 北大核心 1994年第4期31-36,共6页 Advanced Technology of Electrical Engineering and Energy
关键词 电子束曝光机 微电子束 座标轴 electron beam exposure machine, micro-electron beam
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